МЕТОДИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ СПЕКТРОСКОПИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ НА ЗОНДОВОМ МИКРОСКОПЕ

  • Андрей Юрьевич Козлов Тольяттинский государственный университет
  • Максим Николаевич Тюрьков Тольяттинский государственный университет
Ключевые слова: микроскопия, зондовый микроскоп, спектроскопические исследования

Аннотация

Данная работа посвящена попытке  определить возможности зондового микроскопа по изучению некоторых свойств поверхности. С этой целью использовался зондовый микроскоп Solver P47-PRO, набор образцов и несколько стандартных методик. Проведён ряд экспериментов  и получены некоторые виды спектроскопических зависимостей, на основе которых можно анализировать свойства образца или его поверхности.

Литература

1. Solver PRO Сканирующий зондовый микроскоп, проведение измерений, руководство пользователя NT-MDT, 2006. - 335 с.
2. Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии / В. Л. Миронов - М.: Техносфера, 2004. - 143 с.
3. Дедков, Г. В. Применение силовой и электросиловой зондовой спектроскопии проводящих поверхностей в атмосферный условиях для характеризации зондов in situ / Г. В. Дедков, Е. Г. Дедкова, Р. И. Тегаев, Х. Б. Хоконов // Труды XV Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел (РЭМ- 2007). Институт Проблем Технологии Микроэлектроники и Особочистых Материалов РАН. Черноголовка. - 2007. - С. 16.
Выпуск
Раздел
Естественные науки

Наиболее читаемые статьи этого автора (авторов)